ملتقى الفيزيائيين العرب > قسم المنتديات الفيزيائية الخاصة > منتدى المسائل والتمارين الفيزيائية. | ||
with all my respect |
الملاحظات |
|
أدوات الموضوع | انواع عرض الموضوع |
#1
|
|||
|
|||
![]() In the quantitative analysis by Auger Electron Spectroscopy (AES), the method for converting an Auger electron intensity into a concentration by using the relative sensitivity factors
WHAT IS THE EQUASTION for the converting and how we can apply it tothe data my samples inculde Au AND O on Si which interface in one point thanks |
#3
|
|||
|
|||
![]() [IMG]dpB1003.tif[/IMG]
|
#4
|
|||
|
|||
![]() اشكرك على الرد
Ix/Sx/(Ii/Si)=Cx The atomic concentration (Cx) of an element x in a sample Ix is the intensity of the Auger signal from the unknown specimen and Si is the relative sensitivity of pure element i هذه المعادلة موجودة عندي ولكن لااعرف كيف استخدمها لان العينه لدي القاعده فيها السيكلون وقمت بعمل ترسيب لعنصر الذهب الرسم البياني الذي نتج من AES عبارة عن وجود تداخل بين منحنى الذهب والسيلكون والاوكسجين في نقطه معينه هل استخدام هذه المعادلة يكفي ام يجب ان استخدم معادلات اخرى ارجو مساعدتي قدر المستطاع لان المعلومات لدي مشوشه كليا شكرا |
#5
|
|||
|
|||
![]() اعذريني مشاعل ليس لدي فكرة مطلقا على هذا الجهاز أنا اشتغل على IR, UV Spectrophotometer ولا أعرف ان كان هذا الجهاز مشابه لهم أم لا أنا بحثت لكِ فقط انما طريقة العمل لا أعلم كيف اعذريني ![]() |
#6
|
|||
|
|||
![]() اوكي اشكرك اخ بيرو
على اي حال وجدت في جامعتي طلاب ممكن يساعدوني تحياتي |
الذين يشاهدون محتوى الموضوع الآن : 1 ( الأعضاء 0 والزوار 1) | |
انواع عرض الموضوع |
![]() |
![]() |
![]() |
|
|